30 ICS国际标准分类[31电子学]-工标网
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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 41869.1-2022  光学和光子学 微透镜阵列 第1部分:术语 国家市场监督管理总局. 2022-10-12 现行
 GB/T 41869.2-2022  光学和光子学 微透镜阵列 第2部分:波前像差的测试方法 国家市场监督管理总局. 2023-05-01 现行
 GB/T 4187-2017  钨条和钨杆 国家质量监督检验检疫. 2018-02-01 现行
 GB/T 4188-2017  钼条和钼杆 国家质量监督检验检疫. 2018-02-01 现行
 GB/T 4194-2017  钨丝蠕变试验、高温处理及金相检查方法 国家质量监督检验检疫. 2018-02-01 现行
 GB/T 42158-2023  微机电系统(MEMS)技术 微沟槽和棱锥式针结构的描述和测量方法 国家市场监督管理总局. 2023-07-01 现行
 GB/T 42191-2023  MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法 国家市场监督管理总局. 2023-09-01 现行
 GB/T 42207.5-2022  电子设备用连接器 产品要求 矩形连接器 第5部分:额定电压直流250V额定电流30A卡扣锁紧可重复接线电源连接器详细规范 国家市场监督管理总局. 2023-07-01 现行
 GB/T 42209-2022  液晶显示屏用点对点(P2P)信号接口 传输协议 国家市场监督管理总局. 2023-07-01 现行
 GB/T 42210-2022  液晶显示屏用点对点(P2P)信号接口 电参数 国家市场监督管理总局. 2023-07-01 现行
 GB/T 42257-2022  铬铒共掺钇钪镓石榴石晶体光学及激光性能测量方法 国家市场监督管理总局. 2023-04-01 现行
 GB/T 42308-2023  电子设备用电位器 第6-1部分:空白详细规范 表面安装预调电位器 评定水平EZ 国家市场监督管理总局. 2023-10-01 现行
 GB/T 42403-2023  激光器和激光相关设备 激光光谱特性测量方法 国家市场监督管理总局. 2023-10-01 现行
 GB/T 42576-2023  北斗/全球卫星导航系统(GNSS)高精度片上系统(SoC)技术要求及测试方法 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 42597-2023  微机电系统(MEMS)技术 陀螺仪 国家市场监督管理总局. 2023-09-01 现行
 GB/T 42706.1-2023  电子元器件 半导体器件长期贮存 第1部分:总则 国家市场监督管理总局. 2023-09-01 现行
 GB/T 42706.2-2023  电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理 国家市场监督管理总局. 2023-09-01 现行
 GB/T 42706.5-2023  电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分:芯片和晶圆 国家市场监督管理总局. 2023-09-01 现行
 GB/T 42709.19-2023  半导体器件 微电子机械器件 第19部分:电子罗盘 国家市场监督管理总局. 2024-03-01 现行
 GB/T 42709.5-2023  半导体器件 微电子机械器件 第5部分:射频MEMS开关 国家市场监督管理总局. 2023-09-01 现行
 GB/T 42742-2023  L波段75kW连续波磁控管技术要求 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 42744-2023  微波电路 电调衰减器测试方法 国家市场监督管理总局. 2024-03-01 现行
 GB/T 42750-2023  可穿戴设备的光辐射安全测量方法 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 42835-2023  半导体集成电路 片上系统(SoC) 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 42836-2023  微波半导体集成电路 混频器 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 42837-2023  微波半导体集成电路 放大器 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 42838-2023  半导体集成电路 霍尔电路测试方法 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 42839-2023  半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 42848-2023  半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 42895-2023  微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 42896-2023  微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 42897-2023  微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 42968.1-2023  集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分:通用条件和定义 国家市场监督管理总局. 2024-01-01 现行
 GB/T 42968.8-2023  集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法 国家市场监督管理总局. 2024-01-01 现行
 GB/T 42969-2023  元器件位移损伤试验方法 国家市场监督管理总局. 2024-01-01 现行
 GB/T 42970-2023  半导体集成电路 视频编解码电路测试方法 国家市场监督管理总局. 2024-01-01 现行
 GB/T 42972-2023  微波电路 检波器测试方法 国家市场监督管理总局. 2024-01-01 现行
 GB/T 42973-2023  半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器 国家市场监督管理总局. 2024-01-01 现行
 GB/T 42974-2023  半导体集成电路 快闪存储器(FLASH) 国家市场监督管理总局. 2024-01-01 现行
 GB/T 42975-2023  半导体集成电路 驱动器测试方法 国家市场监督管理总局. 2024-01-01 现行
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