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| 英文名称： |
Optics and photonics—Microlens array—Part 2:Test methods for wavefront aberrations |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L51激光器件 |
| ICS分类： |
电子学>>31.260光电子学、激光设备 |
| 采标情况： |
ISO 14880-2:2006 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2022-10-12 |
| 实施日期： |
2023-05-01
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| 提出单位： |
中国机械工业联合会 |
| 归口单位： |
全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103) |
| 起草单位： |
中国兵器工业标准化研究所、电子科技大学、中国科学院重庆绿色智能技术研究院、南京迈得特光学有限公司、西安西谷微电子有限责任公司、浙江伟星光学有限公司、上海瑞立柯信息技术有限公司 |
| 起草人： |
孟凡萍、朱懿、李斌成、张为国、姜绪木、王金玉、杨宏杰、汪巘松、汪瑶 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |