| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 5095.9-1997 |
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验 |
国家技术监督局
|
1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 50978-2014 |
电子工业工程建设项目设计文件编制标准 |
住房和城乡建设部
|
2014-12-01 |
现行 |
| GB 5295-1985 |
光电阴极光谱响应特性系列 |
国家标准局
|
1986-03-01 |
作废 |
| GB/T 5295-2012 |
光阴极光谱响应特性系列 |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-02-15 |
现行 |
| GB 5296.3-1995 |
消费品使用说明 化妆品通用标签 |
国家技术监督局
|
1996-01-02 |
作废 |
| GB/T 5489-1985 |
印制板制图 |
国家标准局
|
1986-05-01 |
作废 |
| GB/T 5489-2018 |
印制板制图 |
国家市场监督管理总局.
|
2019-04-01 |
现行 |
| GB/T 5593-1996 |
电子元器件结构陶瓷材料 |
国家技术监督局
|
1997-05-01 |
作废 |
| GB/T 5593-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB 5594.1-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
现行 |
| GB 5594.2-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
现行 |
| GB 5594.3-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB/T 5594.3-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB 5594.4-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB/T 5594.4-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB 5594.5-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 |
信息产业部（电子）
|
1986-01-02 |
现行 |
| GB 5594.6-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB/T 5594.6-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB 5594.7-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB/T 5594.7-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB 5594.8-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 |
国家标准局
|
1986-01-02 |
作废 |
| GB/T 5594.8-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5596-1996 |
电容器用陶瓷介质材料 |
国家技术监督局
|
1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 5597-1999 |
固体电介质微波复介电常数的测试方法 |
国家质量技术监督局
|
1999-01-02 |
现行 |
| GB/T 5598-2015 |
氧化铍瓷导热系数测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5729-1994 |
电子设备用固定电阻器 第一部分:总规范 |
|
1995-08-01 |
作废 |
| GB/T 5729-2003 |
电子设备用固定电阻器 第1部分：总规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2004-08-01 |
现行 |
| GB 5730-1985 |
电子设备用固定电阻器 第二部分:分规范: 低功率非线绕固定电阻器(可供认证用) |
国家标准局
|
1986-09-01 |
现行 |
| GB 5731-1985 |
电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范:低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用) |
国家标准局
|
1986-09-01 |
现行 |
| GB 5732-1985 |
电子设备用固定电阻器 第四部分:分规范:功率型固定电阻器(可供认证用) |
国家标准局
|
1986-09-01 |
现行 |
| GB 5733-1985 |
电子设备用固定电阻器 第四部分:空白详细规范:功率型固定电阻器 评定水平E(可供认证用) |
国家标准局
|
1986-09-01 |
现行 |
| GB 5734-1985 |
电子设备用固定电阻器 第五部分:分规范:精密固定电阻器(可供认证用) |
国家标准局
|
1986-09-01 |
现行 |
| GB 5735-1985 |
电子设备用固定电阻器 第五部分:空白详细规范:精密固定电阻器 评定水平E(可供认证用) |
国家标准局
|
1986-09-01 |
现行 |
| GB/T 5838-1986 |
荧光粉名词术语 |
国家标准局
|
1986-01-02 |
作废 |
| GB/T 5838.1-2015 |
荧光粉 第1部分：术语 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5838.2-2015 |
荧光粉 第2部分：牌号 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5838.3-2015 |
荧光粉 第3部分：性能试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5838.41-2015 |
荧光粉 第4-1部分：黑白显示管用荧光粉 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5838.42-2015 |
荧光粉 第4-2部分：指示管用荧光粉 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5838.43-2015 |
荧光粉 第4-3部分：示波管和显示管用荧光粉 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |