| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 4187-2017 |
钨条和钨杆 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-02-01 |
现行 |
| GB/T 4188-2017 |
钼条和钼杆 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-02-01 |
现行 |
| GB/T 4194-2017 |
钨丝蠕变试验、高温处理及金相检查方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-02-01 |
现行 |
| GB/T 42158-2023 |
微机电系统（MEMS）技术 微沟槽和棱锥式针结构的描述和测量方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-07-01 |
现行 |
| GB/T 42191-2023 |
MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-09-01 |
现行 |
| GB/T 42207.5-2022 |
电子设备用连接器 产品要求 矩形连接器 第5部分：额定电压直流250V额定电流30A卡扣锁紧可重复接线电源连接器详细规范 |
国家市场监督管理总局.
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2023-07-01 |
现行 |
| GB/T 42209-2022 |
液晶显示屏用点对点（P2P）信号接口 传输协议 |
国家市场监督管理总局.
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2023-07-01 |
现行 |
| GB/T 42210-2022 |
液晶显示屏用点对点（P2P）信号接口 电参数 |
国家市场监督管理总局.
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2023-07-01 |
现行 |
| GB/T 42257-2022 |
铬铒共掺钇钪镓石榴石晶体光学及激光性能测量方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-04-01 |
现行 |
| GB/T 42308-2023 |
电子设备用电位器 第6-1部分：空白详细规范 表面安装预调电位器 评定水平EZ |
国家市场监督管理总局.
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2023-10-01 |
现行 |
| GB/T 42403-2023 |
激光器和激光相关设备 激光光谱特性测量方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-10-01 |
现行 |
| GB/T 42576-2023 |
北斗/全球卫星导航系统（GNSS）高精度片上系统（SoC）技术要求及测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42597-2023 |
微机电系统（MEMS）技术 陀螺仪 |
国家市场监督管理总局.
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2023-09-01 |
现行 |
| GB/T 42706.1-2023 |
电子元器件 半导体器件长期贮存 第1部分：总则 |
国家市场监督管理总局.
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2023-09-01 |
现行 |
| GB/T 42706.2-2023 |
电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理 |
国家市场监督管理总局.
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2023-09-01 |
现行 |
| GB/T 42706.5-2023 |
电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分：芯片和晶圆 |
国家市场监督管理总局.
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2023-09-01 |
现行 |
| GB/T 42709.19-2023 |
半导体器件 微电子机械器件 第19部分：电子罗盘 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 42709.5-2023 |
半导体器件 微电子机械器件 第5部分：射频MEMS开关 |
国家市场监督管理总局.
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2023-09-01 |
现行 |
| GB/T 42742-2023 |
L波段75kW连续波磁控管技术要求 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42744-2023 |
微波电路 电调衰减器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 42750-2023 |
可穿戴设备的光辐射安全测量方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42835-2023 |
半导体集成电路 片上系统（SoC） |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42836-2023 |
微波半导体集成电路 混频器 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42837-2023 |
微波半导体集成电路 放大器 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42838-2023 |
半导体集成电路 霍尔电路测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42839-2023 |
半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42848-2023 |
半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42895-2023 |
微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42896-2023 |
微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42897-2023 |
微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42968.1-2023 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42968.8-2023 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42969-2023 |
元器件位移损伤试验方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42970-2023 |
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42972-2023 |
微波电路 检波器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42973-2023 |
半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42974-2023 |
半导体集成电路 快闪存储器（FLASH） |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42975-2023 |
半导体集成电路 驱动器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42976-2023 |
纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜光学性能测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 42977-2023 |
纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜的光学可靠性测定 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |