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半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)

国家标准
标准编号:GB/T 19403.1-2003 标准状态:现行
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标准简介
本部分为GB/T19403的一部分,等同采用国际电工委员会标准IEC60748-11-1:1992《半导体器件集成电路第11部分:第1节:半导体集成电路内部目检》。
英文名称:  Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits (excluding hybrid circuits)
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
什么是采标情况? 采标情况:  IEC 60748-11-1:1992,IDT
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期:  2003-11-24
实施日期:  2004-08-01
首发日期:  2003-11-24
复审日期:  2023-12-28
提出单位:  中华人民共和国信息产业部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门:  信息产业部(电子)
起草单位:  信息产业部第四研究所
起草人:  魏华、王静
页数:  16开, 页数:22, 字数:45千字
出版社:  中国标准出版社
书号:  155066.1-20646
出版日期:  2004-08-01
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