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半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

国家标准
标准编号:GB/T 14030-1992 标准状态:现行
标准价格:31.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了半导体集成电路时基电路电参数测试方法的基本原理。
英文名称:  General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
什么是UDC分类?  UDC分类:  621.382;681.11
发布部门:  国家技术监督局
发布日期:  1992-01-02
实施日期:  1993-08-01
首发日期:  1992-12-17
复审日期:  2023-12-28
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门:  信息产业部(电子)
起草单位:  上海件五厂
页数:  平装16开, 页数:13, 字数:22千字
出版社:  中国标准出版社
书号:  155066.1-9733
出版日期:  2004-08-13
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