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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 3434-1986  半导体集成电路ECL电路系列和品种 国家标准局 1986-01-02 作废
 GB/T 3435-1987  半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种 国家标准局 1987-08-01 作废
 GB/T 34893-2017  微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法 国家质量监督检验检疫. 2018-05-01 现行
 GB/T 34894-2017  微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法 国家质量监督检验检疫. 2018-05-01 现行
 GB/T 34898-2017  微机电系统(MEMS)技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法 国家质量监督检验检疫. 2018-05-01 现行
 GB/T 34899-2017  微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法 国家质量监督检验检疫. 2018-05-01 现行
 GB/T 34900-2017  微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法 国家质量监督检验检疫. 2018-05-01 现行
 GB/T 35001-2018  微波电路 噪声源测试方法 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35002-2018  微波电路 频率源测试方法 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35003-2018  非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35004-2018  数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35005-2018  集成电路倒装焊试验方法 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35006-2018  半导体集成电路 电平转换器测试方法 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35007-2018  半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35008-2018  串行NOR型快闪存储器接口规范 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35009-2018  串行NAND型快闪存储器接口规范 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35010.1-2018  半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35010.2-2018  半导体芯片产品 第2部分:数据交换格式 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35010.3-2018  半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35010.4-2018  半导体芯片产品 第4部分:芯片使用者和供应商要求 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35010.5-2018  半导体芯片产品 第5部分:电学仿真要求 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35010.6-2018  半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35010.7-2018  半导体芯片产品 第7部分:数据交换的XML格式 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35010.8-2018  半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35011-2018  微波电路 压控振荡器测试方法 国家质量监督检验检疫. 2018-08-01 现行
 GB/T 35086-2018  MEMS电场传感器通用技术条件 国家市场监督管理总局. 2018-12-01 现行
 GB/T 36474-2018  半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 国家市场监督管理总局. 2019-01-01 现行
 GB/T 36477-2018  半导体集成电路 快闪存储器测试方法 国家市场监督管理总局. 2019-01-01 现行
 GB/T 36479-2018  集成电路 焊柱阵列试验方法 国家市场监督管理总局. 2019-01-01 现行
 GB/T 36614-2018  集成电路 存储器引出端排列 国家市场监督管理总局. 2019-01-01 现行
 GB/T 38341-2019  微机电系统(MEMS)技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法 国家市场监督管理总局. 2020-04-01 现行
 GB/T 38446-2020  微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法 国家市场监督管理总局. 2020-10-01 现行
 GB/T 38447-2020  微机电系统(MEMS)技术 MEMS结构共振疲劳试验方法 国家市场监督管理总局. 2020-07-01 现行
 GB/T 39842-2021  集成电路(IC)卡封装框架 国家市场监督管理总局. 2021-07-01 现行
 GB/T 42709.19-2023  半导体器件 微电子机械器件 第19部分:电子罗盘 国家市场监督管理总局. 2024-03-01 现行
 GB/T 42709.5-2023  半导体器件 微电子机械器件 第5部分:射频MEMS开关 国家市场监督管理总局. 2023-09-01 现行
 GB/T 42744-2023  微波电路 电调衰减器测试方法 国家市场监督管理总局. 2024-03-01 现行
 GB/T 42835-2023  半导体集成电路 片上系统(SoC) 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 42836-2023  微波半导体集成电路 混频器 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
 GB/T 42837-2023  微波半导体集成电路 放大器 国家市场监督管理总局. 2023-12-01 现行
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