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集成电路 CMOS图像传感器测试方法

国家标准
标准编号:GB/T 43063-2023 标准状态:现行
标准价格:59.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件描述了具有线性光电响应特性的线阵、面阵和时间延迟积分(TDI)CMOS图像传感器参数及其测试方法。
本文件适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和TDI器件参数测试。
英文名称:  Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2023-09-07
实施日期:  2024-01-01
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  中华人民共和国工业和信息化部
起草单位:  中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、重庆光电技术研究所、天津大学、长春精测光电技术有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳佑驾创新科技有限公司
起草人:  李俊霖、张涛、兰太吉、杨永强、赵宇、聂真威、韩冰、金辉、马洪涛、卢岩、徐江涛、刘昌举、唐延甫、聂凯明、李金、高志远、马悦、刘国清、王琪、刘秀娟
页数:  36页
出版社:  中国标准出版社
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