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半导体集成电路 驱动器测试方法

国家标准
标准编号:GB/T 42975-2023 标准状态:现行
标准价格:49.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件规定了半导体集成电路驱动器(以下简称器件)的电特性测试方法的基本原理和测试程序。
本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。
其他类别驱动器的测试参考使用。
英文名称:  Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2023-09-07
实施日期:  2024-01-01
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
起草单位:  中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第二十四研究所、安徽大华半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所等
起草人:  刘芳、周俊、杨晓强、纵雷、刘凡、霍玉柱、林瑜攀、陆坚、梁希、王会影
页数:  28页
出版社:  中国标准出版社
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