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| 英文名称： |
Method of preparation for samples of metal and alloy in electron probe microanalysis |
 中标分类： |
仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS分类： |
成像技术>>37.020光学设备 |
| 发布部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
1998-05-08 |
| 实施日期： |
1998-01-02
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| 首发日期： |
1998-05-08 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
冶金部钢铁研究总院和中科院金属所 |
| 页数： |
5页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-15165 |
| 出版日期： |
2004-04-12 |
| 标准前页： |
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