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| 英文名称： |
General rules for X-ray photoelectron spectroscopic analysis method |
 中标分类： |
仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS分类： |
计量学和测量、物理现象>>光学和光学测量>>17.180.30光学测量仪器 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2004-04-30 |
| 实施日期： |
2004-12-01
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| 首发日期： |
2004-04-30 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 提出单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
北京大学化学与分子工程学院 |
| 起草人： |
黄惠忠 |
| 页数： |
16开， 页数：10， 字数：17千字 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-21114 |
| 出版日期： |
2004-12-01 |
| 标准前页： |
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