黄金制品镀层成分的 X 射线能谱测量方法 |
 |
| 标准编号：GB/T 17723-1999 |
标准状态：已作废 |
|
| 标准价格：8.0 元 |
客户评分：  |
|
|
本标准有现货可当天发货一线城市最快隔天可到！ |
|
|
|
|
|
|
本标准规定了应用扫描电镜X射线能谱仪（包括装有X射线能谱仪的电子探针仪）对镀金制品表面金及金合金单层均匀镀层成分的非破坏性分析测量方法。本标准适用于表面镀金及金合金，其镀层厚度为0.2μm以上，3μm以下范围内的成分测量(不包括基体和金镀层材料相近的镀层成分的测量)。 |
|
|
|
| 英文名称： |
Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 17362-2008代替 |
| 中标分类： |
仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS分类： |
成像技术>>37.020光学设备 |
| 发布部门： |
国家质量技术监督局 |
| 发布日期： |
1999-04-01 |
| 实施日期： |
1999-01-02
|
| 作废日期： |
2009-05-01
|
| 首发日期： |
1999-04-11 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
北京有色金属研究总院 |
| 页数： |
平装16开， 页数：7， 字数：10千字 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-15976 |
| 出版日期： |
2004-04-16 |
| 标准前页： |
浏览标准前文 || 下载标准前页 |
|
|
|
|
| |
|
客服中心 |
| 有问题？找在线客服 |
 |
|
|
|
|
温馨提示：标准更新替换较快，请注意您购买的标准时效性。 |
|
|
|
|
| 必备软件下载 |
| Adobe Acrobat Reader 是一个查看、
阅读和打印PDF文件的最佳工具，通
过它可以查阅本站的标准文档 |
 |
|
|
|