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| 英文名称： |
Test method and procedure of atmospheric-neutron induced single event effects in semiconductor devices |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： |
电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合 |
| 发布部门： |
中国电子学会 |
| 发布日期： |
2021-11-22 |
| 实施日期： |
2022-02-01
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| 提出单位： |
中国电子学会可靠性分会 |
| 归口单位： |
中国电子学会可靠性分会 |
| 起草单位： |
工业和信息化部电子第五研究所、中国民用航空适航审定中心、散裂中子源科学中心、西北核技术研究院、中国航发商用航空发动机有限责任公司、中国航空综合技术研究所 |
| 起草人： |
张战刚、雷志锋、黄云、郭雁泽、于全芝、梁天骄、郭红霞、赵振可、王春晓、陈宇、何玉娟、彭超、肖庆中 |
| 页数： |
16页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |