|
| 英文名称： |
Fault tree analysis method and procedure of electronic components |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： |
电子学>>31.080半导体器件 |
| 发布部门： |
中国电子学会 |
| 发布日期： |
2021-11-22 |
| 实施日期： |
2022-02-01
|
| 提出单位： |
中国电子学会可靠性分会 |
| 归口单位： |
中国电子学会可靠性分会 |
| 起草单位： |
工业和信息化部电子第五研究所 |
| 起草人： |
何小琦、陈媛、恩云飞、来萍、宋芳芳、王蕴辉、支越、路国光、任艳 |
| 页数： |
28页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
|