光电耦合器可靠性评价方法 |
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| 标准编号：T/SLEIA 0003-2024 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：0.0 元 |
客户评分：  |
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本文件规定了用于光电耦合器件（以下简称器件）可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。 |
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 ICS分类： |
电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合 |
| 发布部门： |
深圳市龙岗区电子行业联合会 |
| 发布日期： |
2024-01-26 |
| 实施日期： |
2024-02-26
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| 提出单位： |
深圳市龙岗区电子行业联合会 |
| 归口单位： |
深圳市龙岗区电子行业联合会 |
| 起草单位： |
深圳市豪林电子有限公司、深圳市杰视威光电科技有限公司、广州涂氏精怡科技 有限公司、深圳市华南三弦科技有限公司、深圳市中霖创科技有限公司 |
| 起草人： |
谢道平、游显斌、涂进红、陈学伟、黄忠 |
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