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半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾

国家标准
标准编号:GB/T 4937.13-2018 标准状态:现行
标准价格:24.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法,以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。
本试验是破坏性试验。
本试验总体上符合IEC 60068-2-11,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。
英文名称:  Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13:Salt atmosphere
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
什么是采标情况? 采标情况:  IEC 60749-13:2002 IDT
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2018-09-17
实施日期:  2019-01-01
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
主管部门:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
起草单位:  中国电子科技集团公司第十三研究所、北京大学微电子研究院、无锡必创传感科技有限公司
起草人:  张艳杰、彭浩、李树杰、岳振鹏、崔波、高金环、裴选、张天福、迟雷、张威、陈得民、周刚
页数:  8页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2018-09-01
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