SJ/T 10745-1996 半导体集成电路机械和气候试验方法电子行业标准(SJ)-工标网

高级查询

您的位置:工标网 >> 电子行业标准(SJ) >> SJ/T 10745-1996

标准简介


英文名称：	Mechanical and climatic test methods for semiconductor integrated circuits
标准状态：	已废止
替代情况：	原标准号GB 4590-84
中标分类：	医药、卫生、劳动保护>>医药、卫生、劳动保护综合>>C01技术管理
ICS分类：	电子学>>31.200集成电路、微电子学
采标情况：	IEC 147-4 MOD IEC 147-5 MOD
发布日期：	1996-11-20
实施日期：	1997-01-01
作废日期：	2010-01-20
页数：	49页

相关搜索：半导体集成电路机械试验

技术管理相关标准	第1页第2页第3页第4页第5页更多>>
SJ/T 10749-1996 ＣＪ１１型直流固定金属化纸介电容器详细规范
SJ/T 10750-1996 ＣＪ３０型直流固定金属化纸介电容器详细规范
SJ/T 10751-1996 ＣＪ４０型直流固定金属化纸介电容器详细规范
SJ/T 10752-1996 ＣＪ４１型直流固定金属化纸介电容器详细规范
SJ/T 10761-1996 电容器用陶瓷介质材料的分类及名称和牌号的命名方法
SJ/T 10776-1996 电子器件详细规范ＣＴ１型瓷介固定电容器评定水平Ｅ（可供认证用）
SJ/T 10777-1996 电子器件详细规范ＣＣ１型瓷介固定电容器评定水平Ｅ（可供认证用）
SJ/T 10778-1996 电子器件详细规范ＣＤ１１型固定铝电解电容器评定水平Ｅ（可供认证用）
SJ/T 10780-1996 电子器件详细规范ＣＹ－０、１、２、３固定云母电容器评定水平Ｅ（可供认证用）
SJ/T 10785-1996 电子器件详细规范ＣＬ１０型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平Ｅ（可供认证用）
免费下载技术管理标准相关目录

集成电路、微电子学相关标准	第1页第2页第3页第4页
SJ/Z 11354-2006 集成电路模拟/混合信号IP核规范
SJ/Z 11355-2006 集成电路IP/SoC功能验证规范
SJ/Z 11360-2006 集成电路IP核信号完整性规范
SJ/Z 11361-2006 集成电路IP核保护大纲
SJ 20954-2006 集成电路锁定试验
SJ 50597/60-2004 半导体集成电路 JW117/JW150/JW138型三端可调正输出电压调整器详细规范
SJ 50597/61-2005 半导体集成电路JW1083/JW1084/JW1085/JW1086型三端可调正输出低压差电压调整器详细规范
SJ 50597/62-2006 半导体集成电路JF1558、JF1558A型通用双运算放大器详细规范
SJ 50597/63-2006 半导体集成电路JF124、JF124A型四运算放大器详细规范
SJ 52438/14-2004 混合集成电路HPA501J型功率放大器详细规范
免费下载集成电路、微电子学标准相关目录

发表留言

客服中心

有问题？找在线客服

温馨提示：标准更新替换较快，请注意您购买的标准时效性。

常见问题

您可能还需要

必备软件下载

Adobe Acrobat Reader 是一个查看、阅读和打印PDF文件的最佳工具，通过它可以查阅本站的标准文档

搜索更多

购书咨询:0898-3137-2222/13876321121 客服热线:400-7255-888 (工作日8:30-18:00、节假日9:00-17:00)