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厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

国家标准
标准编号:GB/T 17473.1-1998 标准状态:已作废
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标准简介
本标准规定了贵金属浆料中固体含量的测试方法。本标准适用于各种贵金属浆料中固体含量的测定。非贵金属浆料中固体含量的测定亦可参照使用。
英文名称:  Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  GB/T 17473.1-2008代替
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>金属化学分析方法>>H15贵金属及其合金分析方法
什么是ICS分类?  ICS分类:  冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合
什么是采标情况? 采标情况:  ≈ASTM F66-84 ≈ASTM D2369-95 ≈ASTM D4713-92
发布部门:  国家质量技术监督局
发布日期:  1998-08-19
实施日期:  1999-03-01
作废日期:  2008-09-01
首发日期:  1998-08-19
复审日期:  2004-10-14
什么是归口单位? 归口单位:  全国有色金属标准化技术委员会
主管部门:  中国有色金属工业协会
起草单位:  昆明贵金属研究所
页数:  平装16开, 页数:5, 字数:5千字
出版社:  中国标准出版社
书号:  155066.1-15489
出版日期:  2004-04-15
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