临界电流测量 银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223氧化物超导体的直流临界电流 |
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| 标准编号：GB/T 18502-2018 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：38.0 元 |
客户评分：  |
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本标准测试方法适用于具有一体化结构，呈圆、扁平或方形结构的单芯或多芯银和/或银合金包套Bi-2212与Bi-2223氧化物超导体短直样品直流临界电流的测量。
本标准测试方法适用于临界电流小于500 A、n值大于5的超导体。测量可在有或无外加磁场的条件下进行。在磁场环境中测试时，磁场应垂直于样品的长度方向。在带状样品的测试中，磁场可垂直或平行于超导体较宽的一面（如果是方形，任何一面均可）。测试过程中，被测样品浸泡在液氮或液氦中。本标准还给出了在通常测试中本实验方法所允许的偏差以及其他具体限定。
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| 英文名称： |
Critical current measurement—DC critical current of Ag-and/or Ag alloy-sheathed Bi-2212 and Bi-2223 oxide superconductors |
 替代情况： |
替代GB/T 18502-2001 |
| ICS分类： |
冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合 |
| 采标情况： |
IEC 61788-3:2006 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2018-03-15 |
| 实施日期： |
2018-07-01
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| 提出单位： |
中国科学院 |
| 归口单位： |
全国超导标准化技术委员会(SAC/TC 265) |
| 起草单位： |
中国科学院电工研究所、中国电力科学研究院、西部超导材料科技股份有限公司、西北有色金属研究院 |
| 起草人： |
张国民、林良真、靖立伟、丘明、闫果、李成山 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2018-03-01 |
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