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| 英文名称： |
Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 8:Test method for stretchability,flexibility and stability of flexible resistive memory |
| 标准状态： |
即将实施 |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合 |
| ICS分类： |
电子学>>半导体器件>>31.080.99其他半导体器件 |
| 采标情况： |
IEC 62951-8:202 IDT |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2026-02-27 |
| 实施日期： |
2026-09-01
即将实施 距离实施日期还有130天 |
| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
| 起草单位： |
上海复旦微电子集团股份有限公司、复旦大学、之江实验室、中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 起草人： |
沈磊、孙建军、俞剑、刘山佳、王明、时拓、崔波、陈海蓉、张丽静 |
| 页数： |
16页【彩图】 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |