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非易失性相变存储器电性能测试方法

国家标准
标准编号:T/CIE 155-2023 标准状态:现行
标准价格:41.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件规定了相变存储器件单元的电性能测试方法,分为器件性能测试和器件可靠性测试,器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗;器件可靠性测试包括耐久和数据保持时间。
本文件适用于相变存储器件单元。
英文名称:  Measuring methods of electrical properties for non-volatile phase change memory
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:  中国电子学会
发布日期:  2023-03-20
实施日期:  2023-03-20
提出单位:  中国电子学会
什么是归口单位? 归口单位:  中国电子学会
起草单位:  华中科技大学、长江存储科技有限责任公司、中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院
起草人:  缪向水、何强、童浩、程晓敏、徐明、刘峻、李硕、任玲玲、李锟
页数:  28页
出版社:  中国标准出版社
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