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半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理

标准
标准编号:SJ/T 10804-2000 标准状态:已废止
标准价格:27.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本规范规定了半导体集成电路电平转换器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。
本规范适用于半导体集成电路双极型电平转换器电特性的测试。
英文名称:  Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for level translator
标准状态:  已废止
什么是替代情况? 替代情况:  SJ/T 10804-1996(原标准号GB 6797-1986)
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:  中华人民共和国信息产业部
发布日期:  2000-12-28
实施日期:  2001-03-01
作废日期:  2011-08-15
提出单位:  中华人民共和国信息产业部
什么是归口单位? 归口单位:  中国电子技术标准化研究所
起草单位:  中国电子技术标准化研究所
起草人:  李燕荣
页数:  35页
出版社:  电子工业出版社
出版日期:  2001-02-01
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引用标准
SJ/T 10734-1996 半导体含集成电路文字符号 电参数文字符号

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