标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 5271.5-2008 |
信息技术 词汇 第5部分:数据表示 |
国家标准化管理委员.
|
2008-12-01 |
现行 |
GB/T 5271.7-1986 |
数据处理词汇 07部分 计算机程序设计 |
国家标准化管理委员会
|
1987-05-01 |
作废 |
GB/T 5271.7-2008 |
信息技术 词汇 第7部分:计算机编程 |
国家质量监督检验检疫.
|
2008-12-01 |
现行 |
GB/T 5271.8-2001 |
信息技术 词汇 第8部分:安全 |
国家质量监督检验检疫.
|
2002-03-01 |
现行 |
GB/T 5271.9-2001 |
信息技术 词汇 第9部分:数据通信 |
国家质量监督检验检疫.
|
2002-03-01 |
现行 |
GB 5295-1985 |
光电阴极光谱响应特性系列 |
国家标准局
|
1986-03-01 |
作废 |
GB/T 5295-2012 |
光阴极光谱响应特性系列 |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-02-15 |
现行 |
GB 5296.3-1995 |
消费品使用说明 化妆品通用标签 |
国家技术监督局
|
1996-01-02 |
作废 |
GB/T 5297-1985 |
35mm和16mm电影发行影片字幕的位置及尺寸 |
|
1986-04-01 |
作废 |
GB/T 5297-2002 |
35mm和16mm电影发行影片字幕最大可允许区域的位置和尺寸 |
国家质量监督检验检疫.
|
2003-05-01 |
现行 |
GB 5298-1985 |
35mm电影遮幅法影片画面的位置及尺寸 |
国家标准局
|
1986-04-01 |
现行 |
GB/T 5299-1985 |
16mm电影发行影片上的画面面积和光学声带的位置及尺寸 |
|
1986-04-01 |
作废 |
GB/T 5299-2002 |
16mm电影发行影片上画面和光学声迹的位置和尺寸 |
国家质量监督检验检疫.
|
2003-05-01 |
作废 |
GB/T 5300-1994 |
70mm、65mm、35mm和16mm电影影片接头的尺寸和位置 |
国家技术监督局
|
1995-08-01 |
作废 |
GB/T 5301-1985 |
供电视用影片的安全画面的位置及尺寸 |
|
1986-04-01 |
作废 |
GB/T 5301-2002 |
供电视播放用影片安全画面范围的位置和尺寸 |
国家质量监督检验检疫.
|
2003-05-01 |
现行 |
GB/T 5437-1985 |
话路传真(三类机)传输要求 |
国家标准局
|
1986-06-01 |
现行 |
GB/T 5438-1985 |
单声和立体声节目传输特性和测量方法 |
国家标准局
|
1986-06-01 |
现行 |
GB/T 5439-1996 |
立体声广播节目(磁带)的录制和交换 |
国家技术监督局
|
1996-01-02 |
废止 |
GB/T 5440-1985 |
广播用立体声录音机 |
国家标准局
|
1986-06-01 |
废止 |
GB/T 5442-1985 |
电话自动交换网带内单频脉冲线路信号技术指标测试方法 |
信息产业部(通信)
|
1986-06-01 |
废止 |
GB/T 5443-1985 |
电话自动交换网铃流和信号音技术指标测试方法 |
信息产业部(通信)
|
1986-06-01 |
现行 |
GB/T 5444-1985 |
电话自动交换网用户信号技术指标测试方法 |
信息产业部(通信)
|
1986-06-01 |
现行 |
GB/T 5489-1985 |
印制板制图 |
国家标准局
|
1986-05-01 |
作废 |
GB/T 5489-2018 |
印制板制图 |
国家市场监督管理总局.
|
2019-04-01 |
现行 |
GB/T 5581-1985 |
75波特/180Hz调频音频电报机技术要求和测试方法 |
国家标准局
|
1986-07-01 |
作废 |
GB/T 5593-1996 |
电子元器件结构陶瓷材料 |
国家技术监督局
|
1997-05-01 |
作废 |
GB/T 5593-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
GB 5594.1-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
现行 |
GB 5594.2-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
现行 |
GB 5594.3-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
GB/T 5594.3-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
GB 5594.4-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
GB/T 5594.4-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
GB 5594.5-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 |
信息产业部(电子)
|
1986-01-02 |
现行 |
GB 5594.6-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
GB/T 5594.6-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
GB 5594.7-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
GB/T 5594.7-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
GB 5594.8-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 |
国家标准局
|
1986-01-02 |
作废 |