| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 4073-1996 |
荧光粉牌号 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
作废 |
| GB/T 41203-2021 |
光伏组件封装材料加速老化试验方法 |
国家市场监督管理总局.
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2022-07-01 |
现行 |
| GB/T 4181-1997 |
钨丝 |
国家技术监督局
|
1998-08-01 |
作废 |
| GB/T 4181-2017 |
钨丝 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-02-01 |
现行 |
| GB/T 4182-1997 |
钼丝 |
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1998-08-01 |
作废 |
| GB/T 4182-2003 |
钼丝 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-08-01 |
作废 |
| GB/T 4183-2002 |
钼钨合金丝 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-05-01 |
现行 |
| GB/T 4184-1984 |
钨铼合金丝 |
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1984-11-01 |
作废 |
| GB/T 4184-2002 |
钨铼合金丝 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-12-01 |
作废 |
| GB/T 4184-2021 |
钨铼合金丝 |
国家市场监督管理总局.
|
2022-07-01 |
现行 |
| GB/T 4185-2017 |
钼钨合金条及杆 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-02-01 |
现行 |
| GB/T 4187-2017 |
钨条和钨杆 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-02-01 |
现行 |
| GB/T 4188-2017 |
钼条和钼杆 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-02-01 |
现行 |
| GB/T 4194-2017 |
钨丝蠕变试验、高温处理及金相检查方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-02-01 |
现行 |
| GB/T 4314-2000 |
吸气剂术语 |
国家质量监督检验检疫.
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2000-08-01 |
作废 |
| GB/T 4314-2017 |
吸气剂术语 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
现行 |
| GB/T 43724-2024 |
单体液晶测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-10-01 |
现行 |
| GB/T 43771-2024 |
电子气体 一氧化碳 |
国家市场监督管理总局.
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2024-10-01 |
现行 |
| GB/T 43772-2024 |
电子气体 二氧化碳 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-10-01 |
现行 |
| GB/T 43773-2024 |
电子气体 羰基硫 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-10-01 |
现行 |
| GB/T 43774-2024 |
平板显示器基板玻璃应力测试 点扫描法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-10-01 |
现行 |
| GB/T 43788-2024 |
太阳能电池用银浆银含量的测定 硫氰酸盐标准溶液滴定法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-10-01 |
现行 |
| GB/T 43793.1-2024 |
平板显示用彩色光刻胶测试方法 第1部分：理化性能 |
国家市场监督管理总局.
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2024-10-01 |
现行 |
| GB/T 43793.2-2024 |
平板显示用彩色光刻胶测试方法 第2部分：光学性能 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-10-01 |
现行 |
| GB/T 43793.3-2024 |
平板显示用彩色光刻胶测试方法 第3部分：可靠性 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-10-01 |
现行 |
| GB/T 43798-2024 |
平板显示阵列用正性光阻材料测试方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-10-01 |
现行 |
| GB/T 43965-2024 |
电子级正硅酸乙酯 |
国家市场监督管理总局.
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2024-11-01 |
现行 |
| GB/T 4779.1-1984 |
彩色显象管用荧光粉Y22-G3荧光粉 |
信息产业部（电子）
|
1985-08-01 |
作废 |
| GB/T 4779.2-1984 |
彩色显象管用荧光粉Y22-B2荧光粉 |
信息产业部（电子）
|
1985-08-01 |
作废 |
| GB/T 4779.3-1984 |
彩色显像管用荧光粉Y22-R4荧光粉 |
信息产业部（电子）
|
1985-08-01 |
作废 |
| GB/T 5593-1996 |
电子元器件结构陶瓷材料 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
作废 |
| GB 5594.1-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 |
国家标准局
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1986-12-01 |
现行 |
| GB 5594.2-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
现行 |
| GB 5594.3-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB 5594.4-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB 5594.5-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 |
信息产业部（电子）
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1986-01-02 |
现行 |
| GB 5594.6-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB 5594.7-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB 5594.8-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 |
国家标准局
|
1986-01-02 |
作废 |
| GB/T 5596-1996 |
电容器用陶瓷介质材料 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |