标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 1411-1978 |
固体电工绝缘材料高压小电流间歇耐电弧试验方法 |
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1979-03-01 |
作废 |
GB/T 1411-2002 |
干固体绝缘材料 耐高电压、小电流电弧放电的试验 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-01-01 |
现行 |
GB/T 14134-1993 |
纸绝缘铅套市内通信电缆 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
废止 |
GB/T 14135-1993 |
铜芯星绞铅套高频对称通信电缆 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
废止 |
GB/T 14139-1993 |
硅外延片 |
国家技术监督局
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1993-10-01 |
作废 |
GB/T 14139-2009 |
硅外延片 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
作废 |
GB/T 14139-2019 |
硅外延片 |
国家市场监督管理总局.
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2020-05-01 |
现行 |
GB/T 14140-2009 |
硅片直径测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
现行 |
GB/T 14141-1993 |
硅外延层,扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 |
国家技术监督局
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1993-10-01 |
作废 |
GB/T 14141-2009 |
硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
现行 |
GB/T 14142-1993 |
硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法 |
国家技术监督局
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1993-10-01 |
作废 |
GB/T 14143-1993 |
300?900 UM 硅片间隙氧含量红外吸收测量方法 |
国家技术监督局
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1993-10-01 |
作废 |
GB/T 14144-1993 |
硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法 |
国家技术监督局
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1993-10-01 |
作废 |
GB/T 14144-2009 |
硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
现行 |
GB/T 14145-1993 |
硅外延层堆垛层错密度测定干涉相衬显微镜法 |
国家技术监督局
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1993-10-01 |
作废 |
GB/T 14146-1993 |
硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容--电压法 |
国家技术监督局
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1993-10-01 |
作废 |
GB/T 14146-2009 |
硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
作废 |
GB 14196-1993 |
普通照明灯泡的安全要求 |
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1993-08-01 |
作废 |
GB 14196.1-2002 |
家庭和类似场合普通照明用钨丝灯安全要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-04-01 |
作废 |
GB 14196.1-2008 |
白炽灯安全要求 第1部分:家庭和类似场合普通照明用钨丝灯 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-04-01 |
现行 |
GB/T 14196.1-2023 |
白炽灯 安全规范 第1部分:家庭和类似场合普通照明用钨丝灯 |
国家市场监督管理总局.
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2026-01-01 |
即将实施 |
GB 14196.2-2002 |
家庭和类似场合普通照明用卤钨灯安全要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-04-01 |
作废 |
GB 14196.2-2008 |
白炽灯安全要求 第2部分:家庭和类似场合普通照明用卤钨灯 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-04-01 |
现行 |
GB/T 14196.2-2023 |
白炽灯 安全规范 第2部分:家庭和类似场合普通照明用卤钨灯 |
国家市场监督管理总局.
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2026-01-01 |
即将实施 |
GB 14196.3-2008 |
白炽灯 安全要求 第3部分:卤钨灯(非机动车辆用) |
国家质量监督检验检疫.
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2009-07-01 |
现行 |
GB/T 14196.3-2023 |
白炽灯 安全规范 第3部分:卤钨灯(非机动车辆用) |
国家市场监督管理总局.
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2026-01-01 |
即将实施 |
GB/T 14218-1993 |
电子调光设备性能参数与测试方法 |
国家技术监督局
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1993-01-01 |
作废 |
GB/T 14218-2018 |
电子调光设备性能参数与测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2019-04-01 |
现行 |
GB/T 1426-2008 |
炭素材料分类 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-04-01 |
现行 |
GB/T 14264-1993 |
半导体材料术语 |
国家技术监督局
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1993-01-02 |
作废 |
GB/T 14264-2009 |
半导体材料术语 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
作废 |
GB/T 1427-2016 |
炭素材料取样方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-05-01 |
现行 |
GB/T 14276-1993 |
绕接工具总规范 |
国家技术监督局
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1993-01-01 |
作废 |
GB/T 14280-1993 |
热时间延迟开关总规范 |
国家技术监督局
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1993-01-01 |
作废 |
GB/T 14281-1993 |
恒温开关总规范 |
国家技术监督局
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1993-01-01 |
作废 |
GB 14285-1993 |
继电保护和安全自动装置技术规程 |
国家技术监督局
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1993-01-02 |
作废 |
GB/T 14285-2006 |
继电保护和安全自动装置技术规程 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-01 |
作废 |
GB 14287-1993 |
防火漏电电流动作报警器 |
国家技术监督局
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1993-01-01 |
作废 |
GB/T 1429-2009 |
炭素材料灰分含量的测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-04-01 |
现行 |
GB/T 1431-2009 |
炭素材料耐压强度测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-04-01 |
作废 |