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 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> 中标分类 >> A综合 >> A00/09 标准化管理与一般规定 >> A01技术管理
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 SJ/T 10588.1-1994  DB-401型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.10-1994  DB-435型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.11-1994  DB-436型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.12-1994  DB-438型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.13-1994  DB-441型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.14-1994  DB-442型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.15-1994  DB-443型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.16-1994  DB-444型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.17-1994  DB-456型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.18-1994  DB-471型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.19-1994  DB-472型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.2-1994  DB-403型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.20-1994  DB-473型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.21-1994  DB-474型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.22-1994  DB-488型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.23-1994  DB-489型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.24-1994  DB-495型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.3-1994  DB-404型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.4-1994  DB-405型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.5-1994  DB-413型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.6-1994  DB-422型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.7-1994  DB-423型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.8-1994  DB-427型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10588.9-1994  DB-428型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10589-1994  DG-502型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10590-1994  DZ-601~624型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10591.1-1994  DH-704型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10591.2-1994  DH-705型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10591.3-1994  DH-706型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10592.1-1994  DT-841型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10592.2-1994  DT-842型电子玻璃技术数据 1994-12-01 作废
 SJ/T 10617-1995  电子器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器 RT13型碳膜固定电阻器 评定水平E 1995-10-01 作废
 SJ/T 10618-1995  电子器件详细规范 功率型固定电阻器 RYG1型金属氧化膜电阻器 评定水平E 1995-10-01 作废
 SJ/T 10619-1995  电子器件详细规范 功率型固定电阻器 RYG2型金属氧化膜电阻器 评定水平E 1995-10-01 作废
 SJ/T 10623-1995  电子管灯丝与热丝电压系列 电子工业部 1995-10-01 现行
 SJ/T 10624-1995  X射线管寿命试验方法 电子工业部 1995-10-01 现行
 SJ/T 10625-1995  锗单晶体中间隙氧含量的红外吸收测定方法 电子工业部 1995-10-01 现行
 SJ/T 10626-1995  键合金丝中杂质素的ICP-AES测定方法 电子工业部 1995-10-01 现行
 SJ/T 10627-1995  通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法 电子工业部 1995-10-01 废止
 SJ/T 10629.4-1995  计算机辅助设计设计文件管理制度 设计文件的签署 1995-10-01 废止
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