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| 英文名称： |
The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
替代GB 1557-1983;被GB/T 1557-2006代替 |
| 中标分类： |
冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法 |
| ICS分类： |
77.040.30; |
| UDC分类： |
669.782;543.42 |
| 采标情况： |
≈ASTM F121-83 |
| 发布部门： |
国家技术监督局 |
| 发布日期： |
1989-03-31 |
| 实施日期： |
1990-02-01
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| 作废日期： |
2006-11-01
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| 首发日期： |
1979-05-26 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
中国有色金属工业协会 |
| 主管部门： |
中国有色金属工业协会 |
| 起草单位： |
上海冶金研究所 |
| 页数： |
平装16开， 页数：6， 字数：8千字 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 标准前页： |
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