现场可编程门阵列（FPGA）芯片时序可靠性测试规范 |
 |
| 标准编号：T/CIE 150-2022 |
标准状态：现行 |
|
| 标准价格：24.0 元 |
客户评分：  |
|
|
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务！ |
|
|
|
|
|
本文件规定了FPGA芯片时序可靠性测试，包含了硬核IP、接口IP、互联等模块的时序可靠性评估方法。
本文件适用于FPGA的提供者、使用者和第三方评价FPGA芯片的时序可靠性。
注：第三方是指在FPGA芯片交付过程中进行认证和提供鉴定、试验等服务的独立机构。 |
|
|
|
| 英文名称： |
Timing reliability test specification of field programmable gate array(FPGA) |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L05可靠性和可维护性 |
| ICS分类： |
电子学>>31.020电子元件综合 |
| 发布部门： |
中国电子学会 |
| 发布日期： |
2022-12-31 |
| 实施日期： |
2023-01-31
|
| 提出单位： |
中国电子学会可靠性分会 |
| 归口单位： |
中国电子学会可靠性分会 |
| 起草单位： |
工业和信息化部电子第五研究所、黄河科技学院、广东工业大学、深圳市紫光同创电子有限公司、成都华微电子科技股份有限公司、广东高云半导体科技股份有限公司、上海安路信息科技股份有限公司、深圳市国微电子有限公司、中国航天科技集团第九研究院第772研究所等 |
| 起草人： |
雷登云、余永涛、杨东、曲晨冰、孙宸、夏益民、王力纬、侯波、来萍、张洋洋、郭海松、刘远、廖步彪、冯成燕、周奇、袁智皓、唐伟东、王文锋、俞剑 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
|
|
|
|
| |
|
客服中心 |
| 有问题？找在线客服 |
 |
|
|
|
|
温馨提示：标准更新替换较快，请注意您购买的标准时效性。 |
|
|
|
|
| 必备软件下载 |
| Adobe Acrobat Reader 是一个查看、
阅读和打印PDF文件的最佳工具，通
过它可以查阅本站的标准文档 |
 |
|
|
|