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| 英文名称： |
Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 2:Deterioration mechanisms |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： |
电子学>>31.020电子元件综合 |
| 采标情况： |
IEC 62435-2:2017 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2023-05-23 |
| 实施日期： |
2023-09-01
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| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
| 起草单位： |
中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、池州华宇电子科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、深圳市标准技术研究院、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、绵阳迈可微检测技术有限公司、武汉格物芯科技有限公司等 |
| 起草人： |
刘玮、石东升、晋李华、彭勇、闫萌、张鑫、彭浩、崔波、魏兵、赵鹏、麦日容、徐昕、米村艳、何黎、陈金星、吴卫斌 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |