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半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动

国家标准
标准编号:GB/T 4937.12-2018 标准状态:现行
标准价格:24.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本部分的目的是测定在规定频率范围内,振动对器件的影响。本试验是破坏性试验,通常用于有空腔的器件。?本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。
英文名称:  Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12:Vibration,variable frequency
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
什么是采标情况? 采标情况:  IEC 60749-12:2002
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2018-09-17
实施日期:  2019-01-01
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
起草单位:  中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:  迟雷、彭浩、岳振鹏、李树杰、崔波、高金环、裴选、张艳杰
页数:  8页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2018-09-01
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