氮化物LED外延片内量子效率测试方法 |
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标准编号:GB/T 30655-2014 |
标准状态:现行 |
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标准价格:29.0 元 |
客户评分: |
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本标准规定了Ⅲ-Ⅴ族氮化物 LED外延片内量子效率的测试方法。
本标准适用于基于Ⅲ-Ⅴ族氮化物的量子阱 LED内量子效率的测试。 |
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英文名称: |
Test methods for internal quantum efficiency of nitride LED epitaxial layers |
中标分类: |
冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法 |
ICS分类: |
冶金>>金属材料试验>>77.040.99金属材料的其他试验方法 |
发布部门: |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
发布日期: |
2014-12-31 |
实施日期: |
2015-09-01
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归口单位: |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)和全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC203/SC2) |
起草单位: |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)和全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC203/SC2) |
起草人: |
魏学成、赵丽霞、王军喜、曾一平、李晋闽 |
页数: |
12页 |
出版社: |
中国标准出版社 |
出版日期: |
2015-09-01 |
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本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)和全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。
本标准起草单位:中国科学院半导体研究所。
本标准主要起草人:魏学成、赵丽霞、王军喜、曾一平、李晋闽。 |
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