| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| SJ/T 10942-1996 |
彩色显像管玻璃中硫的分析 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ 2893-1988 |
电子器件详细规范 ＷＨ１９型低功率电位器 评定水平Ｅ |
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1988-08-01 |
废止 |
| SJ/T 10574-1994 |
电子器件详细规范 精密固定电阻器 ＲＪ７６型精密金属膜电阻器 评定水平Ｅ |
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1994-12-01 |
废止 |
| SJ 347-1973 |
反射速调管总技术条件 |
第四机械工业部
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1973-07-01 |
废止 |
| SJ/T 10579-1994 |
断路器用玻璃真空开关管空白详细规范 |
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1994-12-01 |
废止 |
| SJ 1.4-1987 |
电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 电子工业技术标准编制计划实施阶段划分要求 |
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1988-01-01 |
废止 |
| SJ/T 11297-2003 |
信息技术 通用多八位编码字符集(基本多文种平面)汉字20点阵字型 |
信息产业部
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2004-03-17 |
废止 |
| SJ 3249.3-1989 |
半绝缘砷化镓中铬浓度的红外吸收测试方法 |
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1989-03-25 |
废止 |
| SJ/T 2964.2-2013 |
电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷鉴频器 第2部分：分规范 鉴定批准 |
工业和信息化部
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2013-12-01 |
废止 |
| SJ/T 10168.3-1991 |
真空开关管用金属异型制品 铜铋银合金 |
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1991-07-01 |
废止 |
| SJ/T 10903-1996 |
电子玻璃中三氧化二硼的分析 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 31018-1994 |
坐标镗床完好要求和检查评定方法 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 2960.2-2013 |
电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷陷波器 第2部分：分规范 鉴定批准 |
工业和信息化部
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2013-12-01 |
废止 |
| SJ/T 11040-1996 |
电子玻璃高温粘度测试方法 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ 443-1973 |
高压整流管阴极加热时间的测试方法 |
第四机械工业部
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1973-07-01 |
废止 |
| SJ 2593-1985 |
高纯四氧化硅 |
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1986-01-01 |
废止 |
| SJ/T 11463-2013 |
软件研发成本度量规范 |
工业和信息化部
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2013-12-01 |
废止 |
| SJ/Z 44-1964 |
电镀和化学涂覆典型工艺过程 |
第四机械工业部
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1964-10-30 |
废止 |
| SJ 1161-1977 |
MF14型普通用负温度系数热敏电阻器 |
第四机械工业部
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1977-10-01 |
废止 |
| SJ/T 11365-2006 |
电子信息产品中有毒有害物质的检测方法 |
信息产业部
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2006-11-06 |
废止 |
| SJ/Z 9022.1-1987 |
电容器和电阻器标志用颜色选择指南 |
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1987-10-12 |
废止 |
| SJ 448-1973 |
高压整流管静态特性曲线的测试方法 |
第四机械工业部
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1973-07-01 |
废止 |
| SJ/T 10087.3-1991 |
彩色显像管玻璃主要原材料的化学分析方法 长石的化学分析方法 |
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1991-07-01 |
废止 |
| SJ/T 11364-2014 |
电子电气产品有害物质限制使用标识要求 |
工业和信息化部
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2014-11-01 |
现行 |
| SJ 453-1973 |
高压整流管整流电流脉动峰值的测试方法 |
第四机械工业部
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1973-07-01 |
废止 |
| SJ/T 10494-1994 |
ＣＳ（ＣＫ）６３５型同心插塞插口 |
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1994-10-01 |
废止 |
| SJ 1.9-1987 |
电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 标准草案（报批稿）报批审查时退稿的原则和程序 |
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1988-01-01 |
废止 |
| SJ 2425-1983 |
金属细丝拉伸试验方法 |
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1984-10-01 |
废止 |
| SJ/T 10546-1994 |
特种荧光灯管总规范 |
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1994-12-01 |
废止 |
| SJ/T 11493-2015 |
硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法 |
工业和信息化部
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2015-10-01 |
废止 |
| SJ 1659-1980 |
铜密封垫型式及尺寸系列 |
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1985-05-01 |
废止 |
| SJ/T 10908-1996 |
电子玻璃中氧化铝和氧化锌的分析ＥＤＴＡ络合滴定法 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 31176-1994 |
静态特性试验机完好要求和检查评定方法 |
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1991-07-01 |
废止 |
| SJ/T 11043-1996 |
电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 31088-1994 |
ZXD－60镀银机完好要求和检查评定方法 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ 2859-1988 |
电子器件详细规范 功率型固定电阻器 ＲＸＧ２型线绕固定电阻器 评定水平Ｅ |
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1988-10-01 |
废止 |
| SJ/T 11033-1996 |
电子玻璃密度的测试方法 浮沉法 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ 2253-1982 |
阴极碳酸盐颗粒度的测定方法 |
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1983-07-01 |
废止 |
| SJ 3205-1989 |
电子材料蒸发率的测定方法 |
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1989-03-01 |
废止 |
| SJ 2599.1-1985 |
电子器件详细规范 ＣＤ６０型交流电动机用铝电解电容器 评定水平Ｅ |
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1986-05-01 |
废止 |