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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态  SJ/T 2214-2015  半导体光电二极管和光电晶体管测试方法 工业和信息化部 2015-10-01 现行  SJ 2214.1-1982  半导体光敏管测试方法总则 1983-07-01 作废  SJ 2214.10-1982  半导体光敏二、三极管光电流的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2214.2-1982  半导体光敏二极管正向压降的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2214.3-1982  半导体光敏二极管暗电流的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2214.4-1982  半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2214.5-1982  半导体光敏二极管结电容的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2214.6-1982  半导体光敏三极管集电极－发射极反向击穿电压的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2214.7-1982  半导体光敏三极管饱和压降的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2214.8-1982  半导体光敏三极管暗电流的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2214.9-1982  半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法 1983-07-01 作废  SJ/T 2215-2015  半导体光电耦合器测试方法 工业和信息化部 2015-10-01 现行  SJ 2215.1-1982  半导体光耦合器测试方法总则 1983-07-01 作废  SJ 2215.10-1982  半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2215.11-1982  半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2215.12-1982  半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2215.13-1982  半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2215.14-1982  半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2215.2-1982  半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2215.3-1982  半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2215.4-1982  半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2215.5-1982  半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2215.6-1982  半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2215.7-1982  半导体光耦合器集电极－发射极反向击穿电压的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2215.8-1982  半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2215.9-1982  半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法 1983-07-01 作废  SJ 2216-1982  硅光敏二极管 1983-07-01 作废  SJ/T 2216-2015  硅光电二极管技术规范 工业和信息化部 2015-10-01 现行  SJ 2217-1982  硅光敏三极管 1983-07-01 作废  SJ/T 2217-2014  硅光电晶体管技术规范 工业和信息化部 2015-04-01 现行  SJ 2218-1982  半导体光敏二极管型光耦合器 1983-07-01 废止  SJ 2219-1982  半导体光敏三极管型光耦合器 1983-07-01 废止  SJ 2220-1982  半导体达林顿型光耦合器 1983-07-01 废止  SJ 2221-1982  中、小型系列组合夹具技术要求 1983-07-01 废止  SJ 2222-1982  中、小型系列组合夹具编号规则 1983-07-01 废止  SJ 2223-1982  中型系列组合夹具结构要素 1983-07-01 废止  SJ 2224-1982  小型系列组合夹具结构要素 1983-07-01 废止  SJ 2225-1982  中型系列组合夹具类型和规格尺寸 1983-07-01 作废  SJ 2226-1982  小型系列组合夹具类型和规格尺寸 1983-07-01 废止  SJ 2231-1982  厚膜、薄膜集成电路直流稳压电源系列和品种 1983-07-01 废止

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