标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 5070.5-1985 |
镁铬质耐火材料化学分析方法 二安替比林甲烷光度法测定二氧化钛量 |
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1986-01-01 |
作废 |
GB/T 5070.5-2002 |
镁铬质耐火材料化学分析方法 第5部分: 二安替比林甲烷光度法 测定二氧化钛量 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-06-01 |
作废 |
GB/T 5070.6-1985 |
镁铬质耐火材料化学分析方法 EGTA容量法测定氧化钙量 |
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1986-01-01 |
作废 |
GB/T 5070.6-2002 |
镁铬质耐火材料化学分析方法 第6部分: EGTA容量法测定氧化钙量 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-06-01 |
作废 |
GB/T 5070.7-1985 |
镁铬质耐火材料化学分析方法 CyDTA容量法测定氧化镁量 |
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1986-01-01 |
作废 |
GB/T 5070.7-2002 |
镁铬质耐火材料化学分析方法 第7部分: EDTA容量法测定氧化钙量 |
国家标准化管理委员.
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2003-06-01 |
作废 |
GB/T 5070.8-1985 |
镁铬质耐火材料化学分析方法 硫酸亚铁铵容量法测定三氧化二铬量 |
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1986-01-01 |
作废 |
GB/T 5070.8-2002 |
镁铬质耐火材料化学分析方法 第8部分: CyDTA容量法测定氧化镁量 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-06-01 |
作废 |
GB/T 5070.9-1985 |
镁铬质耐火材料化学分析方法 原子吸收分光光度法测定氧化锰量 |
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1986-01-01 |
作废 |
GB/T 5070.9-2002 |
镁铬质耐火材料化学分析方法 第9部分: EDTA容量法测定氧化镁量 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-06-01 |
作废 |
GB 5071-1985 |
耐火材料真密度试验方法 |
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1986-01-01 |
作废 |
GB/T 5071-1997 |
耐火材料真密度试验方法 |
国家技术监督局
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1998-05-01 |
作废 |
GB/T 5071-2013 |
耐火材料 真密度试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-05-01 |
现行 |
GB/T 5072-1985 |
致密定形耐火制品常温耐压强度试验方法 |
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作废 |
GB/T 5072-2008 |
耐火材料 常温耐压强度试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-04-01 |
作废 |
GB/T 5072.1-1998 |
致密定形耐火制品常温耐压强度试验方法 无衬垫仲裁试验 |
国家质量技术监督局
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1999-07-01 |
作废 |
GB/T 5072.2-2004 |
致密定形耐火制品 常温耐压强度试验方法 第2部分:衬垫试验法 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-12-01 |
作废 |
GB/T 5073-1985 |
耐火制品压蠕变试验方法 |
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1986-01-01 |
作废 |
GB/T 5073-2005 |
耐火材料压蠕变试验方法 |
国家质量监督检验检验.
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2006-01-01 |
作废 |
GB/T 5074-1985 |
焦化产品水分含量的微库仑测定方法 |
中国钢铁工业协会
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1986-01-01 |
作废 |
GB/T 5075-1985 |
电力金具名词术语 |
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1985-12-01 |
作废 |
GB/T 5075-2001 |
电力金具名词术语 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-04-01 |
作废 |
GB 5076-1985 |
具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量 |
国家标准局
|
1985-12-01 |
现行 |
GB 50767-2013 |
火炸药工程设计能耗指标标准 |
住房和城乡建设部
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2014-03-01 |
现行 |
GB/T 5077-1985 |
电容器和电阻器的最大外形尺寸 |
国家标准局
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1985-01-02 |
作废 |
GB 5078-1985 |
单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法 |
国家标准局
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1985-12-01 |
现行 |
GB/T 50789-2012 |
±800kV直流换流站设计规范(2022版) |
住房和城乡建设部
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2012-12-01 |
现行 |
GB 5079.1-1985 |
电视节目短距离微波传送技术要求 |
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1986-01-01 |
作废 |
GB 5079.2-1985 |
电视节目中距离微波传送技术要求 |
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1985-08-01 |
作废 |
GB 50791-2013 |
地热电站设计规范 |
住房和城乡建设部
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2014-06-01 |
现行 |
GB 508-1985 |
石油产品灰分测定法 |
中国石油化工集团公.
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1986-01-01 |
现行 |
GB 5080.1-1986 |
设备可靠性试验总要求 |
国家标准局
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1987-10-01 |
作废 |
GB 5080.2-1986 |
设备可靠性试验 试验周期设计导则 |
国家标准局
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1987-10-01 |
作废 |
GB 5080.4-1985 |
设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布) |
国家标准局
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1986-01-01 |
现行 |
GB 5080.5-1985 |
设备可靠性试验成功率的验证试验方案 |
国家标准局
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1986-01-01 |
现行 |
GB 5080.6-1985 |
设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验 |
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1986-01-01 |
作废 |
GB/T 5080.6-1996 |
设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
GB 5080.7-1986 |
设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 |
国家标准局
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1987-10-01 |
现行 |
GB 50809-2012 |
硅集成电路芯片工厂设计规范 |
住房和城乡建设部
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2012-12-01 |
现行 |
GB 5081-1985 |
电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南 |
国家标准局
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1986-01-01 |
现行 |