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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 13665-1992  金属阻尼材料阻尼本领试验方法 扭摆法和弯曲共振法 国家技术监督局 1993-03-01 作废
 GB/T 13665-2007  金属阻尼材料阻尼本领试验方法 扭摆法和弯曲振动法 国家质量监督检验检疫. 2007-08-01 现行
 GB/T 13789-2008  用单片测试仪测量电工钢片(带)磁性能的方法 国家质量监督检验检疫. 2009-05-01 作废
 GB/T 13925-2010  铸造高锰钢金相 国家质量监督检验检疫. 2011-06-01 现行
 GB/T 13925-2010E  铸造高锰钢金相(英文版) 国家质量监督检验检疫. 2011-06-01 现行
 GB/T 14058-1993  γ射线探伤机 国家技术监督局 1993-07-01 作废
 GB/T 14140.1-1993  硅片直径测量方法 光学投影法 国家技术监督局 1993-10-01 作废
 GB/T 14140.2-1993  硅片直径测量方法 千分尺法 国家技术监督局 1993-10-01 作废
 GB/T 14142-2017  硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法 国家质量监督检验检疫. 2018-04-01 现行
 GB/T 14146-2021  硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法 国家市场监督管理总局. 2021-12-01 现行
 GB/T 1423-1996  贵金属及其合金密度的测试方法 国家技术监督局 1997-04-01 现行
 GB/T 1424-1996  贵金属及其合金材料电阻系数测试方法 国家技术监督局 1997-04-01 现行
 GB/T 1425-1996  贵金属及其合金熔化温度范围的测定 热分析试验方法 国家技术监督局 1997-04-01 作废
 GB/T 1425-2021  贵金属及其合金熔化温度范围的测定 热分析试验方法 国家市场监督管理总局. 2022-03-01 现行
 GB/T 14265-2017  金属材料中氢、氧、氮、碳和硫分析方法通则 国家质量监督检验检疫. 2018-05-01 现行
 GB/T 14452-1993  金属弯曲力学性能试验方法 国家技术监督局 1994-01-01 作废
 GB/T 14453-1993  金属材料高温弹性模量测量方法 圆盘振子法 国家技术监督局 1994-01-01 作废
 GB/T 14454.1-1993  香料 试样制备 国家技术监督局 1994-01-01 作废
 GB/T 14480-1993  涡流探伤系统性能测试方法 国家技术监督局 1994-02-01 作废
 GB/T 1467-2008  冶金产品化学分析方法标准的总则及一般规定 中国钢铁工业协会 2009-04-01 现行
 GB/T 1479-1984  金属粉末松装密度的测定 第一部分:漏斗法 国家标准局 1984-01-02 作废
 GB/T 1480-1995  金属粉末粒度组成的测定 干筛分法 国家技术监督局 1995-01-02 作废
 GB/T 1482-1984  金属粉末流动性的测定 标准漏斗法(霍尔流速计) 国家标准局 1984-01-02 作废
 GB/T 14849.1-2020  工业硅化学分析方法 第1部分:铁含量的测定 国家市场监督管理总局. 2021-02-01 现行
 GB/T 14849.3-2020  工业硅化学分析方法 第3部分:钙含量的测定 国家市场监督管理总局. 2021-02-01 现行
 GB/T 14979-1994  钢的共晶碳化物不均匀度评定法 国家技术监督局 1995-01-01 现行
 GB/T 15077-1994  贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法 国家技术监督局 1994-12-01 作废
 GB/T 15078-1994  贵金属电触点材料接触电阻的测量方法 国家技术监督局 1994-12-01 作废
 GB/T 15248-1994  金属材料轴向等幅低循环疲劳试验方法 国家技术监督局 1995-06-01 作废
 GB/T 15248-2008  金属材料轴向等幅低循环疲劳试验方法 国家质量监督检验检疫. 2008-10-01 现行
 GB/T 15260-1994  镍基合金晶间腐蚀试验方法 国家技术监督局 1995-06-01 作废
 GB/T 1550-1997  非本征半导体材料导电类型测试方法 国家技术监督局 1997-01-02 作废
 GB/T 1550-2018  非本征半导体材料导电类型测试方法 国家市场监督管理总局. 2019-11-01 现行
 GB/T 1551-1995  硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法 国家技术监督局 1995-01-02 作废
 GB/T 1551-2021  硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法 国家市场监督管理总局. 2021-12-01 现行
 GB/T 1552-1995  硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 国家技术监督局 1995-01-02 作废
 GB/T 1553-1997  硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 国家技术监督局 1997-01-02 作废
 GB/T 1553-2023  硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法 国家市场监督管理总局. 2024-03-01 现行
 GB/T 1554-1995  硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法 国家技术监督局 1995-12-01 作废
 GB/T 1555-2023  半导体单晶晶向测定方法 国家市场监督管理总局. 2024-03-01 现行
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