| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 12047-1989 |
多节目静止图像广播系统 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
作废 |
| GB 12048-1989 |
数字网内时钟和同步设备的进网要求 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
废止 |
| GB 1205-1975 |
透镜边缘及中心最小厚度 |
中国机械工业联合会
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1976-01-01 |
作废 |
| GB/T 12050-1989 |
信息处理 信息交换用维吾尔文编码图形字符集 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
现行 |
| GB/T 12051-1989 |
信息处理用蒙古文24点阵字模集及数据集 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
废止 |
| GB/T 12052-1989 |
信息交换用朝鲜文字编码字符集 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
现行 |
| GB/T 12053-1989 |
光学识别用字母数字字符集 第一部分:OCR-A字符集印刷图象的形状和尺寸 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
现行 |
| GB 12054-1989 |
数据处理 转义序列的登记规程 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
现行 |
| GB/T 12055-1989 |
信息处理 信息交换用的盒式磁带和卡式磁带的标号和文卷结构 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
现行 |
| GB/T 12056-1989 |
数据处理 过程计算系统和技术过程之间接口的说明 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
作废 |
| GB/T 12057-1989 |
使用串行二进制数据交换的数据终端设备和数据电路终接设备之间的通用37 插针和9插针接口 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
现行 |
| GB/T 12058-1989 |
扬声器听音试验 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
作废 |
| GB/T 12060-1989 |
声系统设备 一般术语解释和计算方法 |
信息产业部（电子）
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1990-07-01 |
作废 |
| GB/T 12060.1-2017 |
声系统设备 第1部分：概述 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-12-01 |
现行 |
| GB/T 12060.11-2012 |
声系统设备 第11部分：声系统设备互连用连接器的应用 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-06-01 |
现行 |
| GB/T 12060.13-2011 |
声系统设备 第13部分：扬声器听音试验 |
国家质量监督检验检疫.
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2012-02-01 |
现行 |
| GB/T 12060.3-2011 |
声系统设备 第3部分:声频放大器测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2012-02-01 |
现行 |
| GB/T 12060.4-2012 |
声系统设备 第4部分：传声器测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-06-01 |
现行 |
| GB/T 12060.5-2011 |
声系统设备 第5部分：扬声器主要性能测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2012-02-01 |
现行 |
| GB/T 12060.7-2013 |
声系统设备 第7部分：头戴耳机和耳机测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-07-15 |
现行 |
| GB/T 12060.9-2011 |
声系统设备 第9部分：人工混响、时间延迟和移频装置测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2012-05-01 |
现行 |
| GB 12062-1989 |
高保真声频组合设备最低性能要求 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
作废 |
| GB 12078-1989 |
X射线管总规范(可供认证用) |
国家技术监督局
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1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12078-2012 |
X 射线管总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
| GB 12079-1989 |
X射线管光电性能测试方法 |
国家技术监督局
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1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12079-2012 |
X射线管光电性能测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-02-15 |
现行 |
| GB 12082-1989 |
气体激光器文字符号 |
国家技术监督局
|
1990-07-01 |
现行 |
| GB 12083-1989 |
气体激光器电源系列 |
国家技术监督局
|
1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12083-2012 |
气体激光器电源系列 |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-02-15 |
现行 |
| GB/T 12084-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74F系列的品种 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
作废 |
| GB/T 12085.1-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-05-01 |
作废 |
| GB/T 12085.1-2022 |
光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围 |
国家市场监督管理总局.
|
2023-05-01 |
现行 |
| GB/T 12085.10-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分：振动（正弦）与高温、低温综合试验 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-05-01 |
作废 |
| GB/T 12085.11-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第11部分：长霉 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-05-01 |
作废 |
| GB/T 12085.11-2022 |
光学和光子学 环境试验方法 第11部分：长霉 |
国家市场监督管理总局.
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2023-05-01 |
现行 |
| GB/T 12085.12-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第12部分：污染 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-05-01 |
作废 |
| GB/T 12085.12-2022 |
光学和光子学 环境试验方法 第12部分：污染 |
国家市场监督管理总局.
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2023-05-01 |
现行 |
| GB/T 12085.13-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分：冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-05-01 |
作废 |
| GB/T 12085.14-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第14部分：露、霜、冰 |
国家质量监督检验检疫.
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2011-05-01 |
作废 |
| GB/T 12085.14-2022 |
光学和光子学 环境试验方法 第14部分：露、霜、冰 |
国家市场监督管理总局.
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2023-05-01 |
现行 |