| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| JB/T 7609-2006 |
炭石墨材料抗冲击强度试验方法 |
国家发展和改革委员会
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2007-07-01 |
现行 |
| JB/T 7638-2002 |
湿热带电力系统二次电路用控制及继电器保护屏（柜、台）技术条件 |
全国量度继电器和保护.
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2002-12-01 |
现行 |
| JB/T 7774.1-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第1部分：EDTA容量法测定锌量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7774.2-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第2部分：铬天青S分光光度法测定铝量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7774.3-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第3部分：硫脲分光光度法测定铋量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7774.4-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第4部分：火焰原子吸收光谱法测定镍量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7774.5-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第5部分：火焰原子吸收光谱法测定镁量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7774.6-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第6部分：火焰原子吸收光谱法测定镉量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7775.1-2008 |
铜钨碳化钨真空触头材料化学分析方法 第1部分：碘量法测定铜量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7775.2-2008 |
铜钨碳化钨真空触头材料化学分析方法 第2部分：气体容量法测定碳量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7776.1-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第1部分：EDTA络合滴定法测定镉量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7776.2-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第2部分：火焰原子吸收光谱法测定锌量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7776.3-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第3部分：火焰原子吸收光谱法测定镍量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7776.4-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第4部分：苯芴酮分光光度法测定锡量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7776.5-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第5部分：硫脲分光光度法测定铋量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7776.6-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第6部分：火焰原子吸收光谱法测定镁量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7776.7-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第7部分：铬天青S分光光度法测定铝量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7777.1-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第1部分：碘量法测定锡量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7777.2-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第2部分：EDTA容量法测定铟量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7777.3-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第3部分：丁二酮肟分光光度法测定镍量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7777.4-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第4部分：PAN分光光度法测定锌量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7777.5-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第5部分：火焰原子吸收光谱法测定镍、锌和铟量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7778.1-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第1部分：硫氰酸盐容量法测定银量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7778.2-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第2部分：丁二酮肟分光光度法测定镍量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7778.3-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第3部分：气体容量法测定总碳量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7778.4-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第4部分：酸分离-气体容量法测定游离碳量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7779-2008 |
银碳化钨（12）石墨（3）电触头技术条件 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7780.1-2008 |
铆钉型触头用线材机械物理性能试验方法 第1部分：密度测量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7780.2-2008 |
铆钉型触头用线材机械物理性能试验方法 第2部分：硬度测量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7780.3-2008 |
铆钉型触头用线材机械物理性能试验方法 第3部分：电阻率测量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7780.4-2008 |
铆钉型触头用线材机械物理性能试验方法 第4部分：拉抻试验 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7780.5-2008 |
铆钉型触头用线材机械物理性能试验方法 第5部分：扭转试验 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7900-2002 |
高电阻电热合金电阻随温度变化 |
国家经济贸易委员会
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2003-04-01 |
现行 |
| JB/T 8133.10-2013 |
电炭制品物理化学性能试验方法 第10部分：径向抗压强度 |
工业和信息化部
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2013-09-01 |
现行 |
| JB/T 8154-2006 |
炭弧气刨炭棒 |
国家发展和改革委员会
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2007-03-01 |
现行 |
| JB/T 8317-1996 |
变压器冷却器用流量指示器 |
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1996-10-01 |
作废 |
| JB/T 8440-2013 |
电热器具用电源开关 |
工业和信息化部
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2013-09-01 |
现行 |
| JB/T 8456-2005 |
低压直流成套开关设备和控制设备 |
全国低压成套开关设备.
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2005-09-01 |
作废 |
| JB/T 8505-2011 |
铜石墨电触头材料化学分析方法 |
工业和信息化部
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2012-04-01 |
现行 |
| JB/T 8511-2011 |
空气绝缘母线干线系统（空气绝缘母线槽） |
工业和信息化部
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2012-04-01 |
现行 |