| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| JB/T 6772-2006 |
银石墨电刷 |
国家发展和改革委员会
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2007-07-01 |
现行 |
| JB/T 6773-2011 |
金属石墨制品的电阻率试验方法 |
工业和信息化部
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2012-04-01 |
现行 |
| JB/T 6774-2006 |
煤沥青固定炭测定方法 |
国家发展和改革委员会
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2007-07-01 |
作废 |
| JB/T 7092-2008 |
银基复层电触头基本性能测量方法 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7097-2008 |
铜铋铝触头材料 技术条件 |
国家发展和改革委员会.
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7098-2002 |
铜铬电触头 技术条件 |
全国电工合金标委会
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2003-04-01 |
废止 |
| JB/T 7117-2008 |
高电阻电热合金丝技术条件（Φ＜0.20mm) |
国家发展和改革委员会.
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7129-2008 |
米电阻连续测试方法 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7130-2008 |
热双金属平螺旋形件机械转矩率试验方法 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7131-2002 |
热双金属横向弯曲试验方法 |
国家经济贸易委员会
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2003-04-01 |
现行 |
| JB/T 7133-2008 |
热双金属碟形件机械寿命试验方法 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7434-2006 |
阀用电磁铁插头座 |
国家发展和改革委员会
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2007-03-01 |
废止 |
| JB/T 7598-2008 |
电阻焊电极用铜-铬-锆合金 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7609-2006 |
炭石墨材料抗冲击强度试验方法 |
国家发展和改革委员会
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2007-07-01 |
现行 |
| JB/T 7638-2002 |
湿热带电力系统二次电路用控制及继电器保护屏（柜、台）技术条件 |
全国量度继电器和保护.
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2002-12-01 |
现行 |
| JB/T 7774.1-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第1部分：EDTA容量法测定锌量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7774.2-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第2部分：铬天青S分光光度法测定铝量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7774.3-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第3部分：硫脲分光光度法测定铋量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7774.4-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第4部分：火焰原子吸收光谱法测定镍量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7774.5-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第5部分：火焰原子吸收光谱法测定镁量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7774.6-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第6部分：火焰原子吸收光谱法测定镉量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7775.1-2008 |
铜钨碳化钨真空触头材料化学分析方法 第1部分：碘量法测定铜量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7775.2-2008 |
铜钨碳化钨真空触头材料化学分析方法 第2部分：气体容量法测定碳量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7776.1-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第1部分：EDTA络合滴定法测定镉量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7776.2-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第2部分：火焰原子吸收光谱法测定锌量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7776.3-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第3部分：火焰原子吸收光谱法测定镍量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7776.4-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第4部分：苯芴酮分光光度法测定锡量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7776.5-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第5部分：硫脲分光光度法测定铋量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7776.6-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第6部分：火焰原子吸收光谱法测定镁量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7776.7-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第7部分：铬天青S分光光度法测定铝量 |
国家发展和改革委员会
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2008-09-01 |
现行 |
| JB/T 7777.1-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第1部分：碘量法测定锡量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7777.2-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第2部分：EDTA容量法测定铟量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7777.3-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第3部分：丁二酮肟分光光度法测定镍量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7777.4-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第4部分：PAN分光光度法测定锌量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7777.5-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第5部分：火焰原子吸收光谱法测定镍、锌和铟量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7778.1-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第1部分：硫氰酸盐容量法测定银量 |
国家发展和改革委员会
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7778.2-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第2部分：丁二酮肟分光光度法测定镍量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7778.3-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第3部分：气体容量法测定总碳量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7778.4-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第4部分：酸分离-气体容量法测定游离碳量 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |
| JB/T 7779-2008 |
银碳化钨（12）石墨（3）电触头技术条件 |
国家发展和改革委员会.
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2008-07-01 |
现行 |