国家标准化管理委员会批准发布GB/T 18858.3-2012《低压开关设备和控制设备
控制器-设备接口（CDI） 第3部分：DeviceNet》国家标准第1号修改单，自2015年7月1日起实施，现予以公布（见附件）。
GB/T 18858.3-2012《低压开关设备和控制设备
控制器-设备接口（CDI） 第3部分：DeviceNet》
国家标准第1号修改单
一、8.9.2.1中的“标准A”修改为：
判据A：设备在试验过程中及试验结束后应可持续按预期方式运行，表56所示的任意性能退化状况应视为试验失败。
二、8.9.2.1中的“标准B”修改为：
判据B：在试验过程中，不允许实际操作状态及存贮的数据变化，表56所示的任意性能退化状况均应视为试验失败，设备在试验结束后应可持续按预期方式运行。
三、表56中“>1出错位置位/10次传送”修改为：
“>1出错位置位/10次传送（帧）”
附件：
GB/T 18858.3-2012《低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口（CDI） 第3部分：DeviceNet》国家标准第1号修改单.docx