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电子行业标准(SJ)
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PIN、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法
标准编号:
SJ 2354.11-1983
标准状态:
已作废
标准价格:
8.0
元
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标准简介
英文名称:
Method of measurement for width of blind zone of PIN and avalanche photodiode matrix
标准状态:
已作废
替代情况:
被
SJ/T 2354-2015
代替
中标分类:
能源、核技术
>>
能源、核技术综合
>>
F01技术管理
ICS分类:
电子学
>>
31.260光电子学、激光设备
发布日期:
1983-08-15
实施日期:
1984-07-01
作废日期:
2015-10-01
页数:
2页
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