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电子行业标准(SJ)
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半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法
标准编号:
SJ 2215.5-1982
标准状态:
已作废
标准价格:
8.0
元
客户评分:
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标准简介
英文名称:
Method of measurement for reverse breakdown voltage of semiconductor photocouplers (diodes)
标准状态:
已作废
替代情况:
被
SJ/T 2215-2015
代替
中标分类:
通信、广播
>>
通信、广播综合
>>
M01技术管理
发布日期:
1982-11-30
实施日期:
1983-07-01
作废日期:
2015-10-01
页数:
1页
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