GB/T 16822-1997 介电晶体介电性能的试验方法国家标准(GB)-工标网

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标准简介

本标准规定了介电晶体的低频（10MHz以下)介电系数及介电损耗的试验方法。本标准适用于介电晶体的介电性能的测定。


英文名称：	Test method for dielectric properties of dielectric crystal
中标分类：	电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料
ICS分类：	电子学>>31.020电子元件综合
发布部门：	国家技术监督局
发布日期：	1997-05-28
实施日期：	1998-02-01
首发日期：	1997-05-28
复审日期：	2023-12-28
归口单位：	信息产业部（电子）
主管部门：	信息产业部（电子）
起草单位：	中国科学院物理研究所
页数：	平装16开，页数：7，字数：8千字
出版社：	中国标准出版社
书号：	155066.1-14147
出版日期：	2004-04-11
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