流化床法颗粒硅表面金属含量的测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法 |
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| 标准编号:YS/T 1864-2026 |
标准状态:即将实施 |
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| 标准价格:0.0 元 |
客户评分:     |
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本文件描述了电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)测定流化床法颗粒硅表面金属杂质元素含量的方法。
本文件适用于流化床法颗粒硅表面金属杂质元素如铁、铬、镍、铜、钠、镁、铝、钾、钙、锌、钛、钼、钨、钴、锰等含量的测定,各元素测定范围为 0.05ng/g~1000ng/g。 |
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| 标准状态: |
即将实施 |
| 发布部门: |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期: |
2026-04-16 |
| 实施日期: |
2026-11-01
即将实施 距离实施日期还有167天 |
| 出版社: |
冶金工业出版社 |
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