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英文名称: |
Semiconductor devices—Time-dependent dielectric breakdown(TDDB) test for inter-metal layers |
标准状态: |
即将实施 |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
ICS分类: |
电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合 |
发布部门: |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
发布日期: |
2025-05-30 |
实施日期: |
2025-09-01
即将实施 距离实施日期还有60天 |
提出单位: |
中华人民共和国工业和信息化部 |
归口单位: |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
起草单位: |
工业和信息化部电子第五研究所、吉林华微电子股份有限公司、广东科信电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十四研究所、广东汇芯半导体有限公司、上海交通大学、青岛芯瑞智能控制有限公司、电子科技大学 |
起草人: |
高汭、陈义强、王铁羊、柯佳键、冯宇翔、雷志锋、方文啸、杨晓锋、俞鹏飞、来萍、常江、罗俊、纪志罡、李治平、宫玉彬 |
页数: |
20页 |
出版社: |
中国标准出版社 |