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微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

国家标准
标准编号:GB/T 20724-2021 标准状态:现行
标准价格:43.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。注: 由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀,用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度。
英文名称:  Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
什么是替代情况? 替代情况:  替代GB/T 20724-2006
什么是中标分类? 中标分类:  仪器、仪表>>物质成分分析仪器与环境监测仪器>>N53电化学、热化学、光学式分析仪器
什么是ICS分类?  ICS分类:  化工技术>>分析化学>>71.040.99有关化学分析方
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2021-12-31
实施日期:  2022-07-01
提出单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
什么是归口单位? 归口单位:  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
起草单位:  北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院
起草人:  柳得橹、娄艳芝
页数:  24页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2021-12-01
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