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| 英文名称： |
Nanotechnology—Method for the measurement of the nanofilm-thickness by atomic force microscopy |
 中标分类： |
机械>>机械综合>>J04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
计量学和测量、物理现象>>长度和角度测量>>17.040.20表面特征 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2018-12-28 |
| 实施日期： |
2018-12-28
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| 提出单位： |
全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279) |
| 归口单位： |
全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279) |
| 起草单位： |
上海交通大学、纳米技术及应用国家工程研究中心 |
| 起草人： |
李慧琴、金承钰、梁齐、何丹农、韦菲菲 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
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