IP核可测性设计指南 |
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| 标准编号：SJ/T 11699-2018 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：0.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构，对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。
本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。 |
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| 发布部门： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： |
2018-02-09 |
| 实施日期： |
2018-04-01
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