光栅式测微仪校准规范 |
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| 标准编号：JJF 1682-2017 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：27.0 元 |
客户评分：  |
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本规范适用于0.1 μm级行程为0～10 mm、0.2 μm级行程为0～25 mm、0.5 μm级行程为0～50 mm、1 μm级～10 μm级行程为0～100 mm的光栅式测微仪校准。 |
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| 英文名称： |
Calibration Specification for Grating Micrometers |
 替代情况： |
替代JJG 989-2004 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： |
2017-11-20 |
| 实施日期： |
2018-05-20
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| 归口单位： |
全国几何量工程参量计量技术委员会 |
| 主管部门： |
全国几何量工程参量计量技术委员会 |
| 起草单位： |
中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院 |
| 起草人： |
曹学东、匡龙、冉庆 |
| 页数： |
28页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2018-05-01 |
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