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| 英文名称： |
Measurement method for X-ray double crystal diffraction rocking curve of sapphire crystals |
 中标分类： |
冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法 |
| ICS分类： |
冶金>>77.040金属材料试验 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2017-10-14 |
| 实施日期： |
2018-05-01
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| 提出单位： |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) |
| 归口单位： |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) |
| 起草单位： |
中国科学院上海光学精密机械研究所、上海大恒光学精密机械有限公司、中国科学院新疆理化技术研究所、新疆紫晶光电技术有限公司、江苏浩瀚蓝宝石科技有限公司、丹东新东方晶体仪器有限公司 |
| 起草人： |
杭寅、徐民、潘世烈、张方方、赵兴俭、郭宏鹤、赵松彬 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |