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| 英文名称： |
Method for measurement and test of parameters of 4N infrared focal plane detector dewar assembly |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L52红外器件 |
| 发布日期： |
2002-10-30 |
| 实施日期： |
2003-03-01
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| 起草单位： |
中国电子科技集团公司第十一所 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
工业电子出版社 |
| 出版日期： |
2004-04-19 |
| 标准前页： |
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