GB/T17626《电磁兼容 试验和测量技术》目前包括以下部分:
———GB/T17626.1—2006 电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论
———GB/T17626.2—2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
———GB/T17626.3—2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验
———GB/T17626.4—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
———GB/T17626.5—2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验
———GB/T17626.6—2008 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度
———GB/T17626.7—2008 电磁兼容 试验和测量技术 供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量及测量仪器导则
———GB/T17626.8—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验
———GB/T17626.9—2011 电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验
———GB/T17626.10—1998 电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡磁场抗扰度试验
———GB/T17626.11—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
———GB/T17626.12—2013 电磁兼容 试验和测量技术 振荡波抗扰度试验
———GB/T17626.13—2006 电磁兼容 试验和测量技术 交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度试验
———GB/T17626.14—2005 电磁兼容 试验和测量技术 电压波动抗扰度试验
———GB/T17626.15—2011 电磁兼容 试验和测量技术 闪烁仪 功能和设计规范
———GB/T17626.16—2007 电磁兼容 试验和测量技术 0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度试验
———GB/T17626.17—2005 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口纹波抗扰度试验
———GB/T17626.21—2014 电磁兼容 试验和测量技术 混波室试验方法
———GB/T17626.24—2012 电磁兼容 试验和测量技术 HEMP传导骚扰保护装置的试验方法
———GB/T17626.27—2006 电磁兼容 试验和测量技术 三相电压不平衡抗扰度试验
———GB/T17626.28—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频频率变化抗扰度试验
———GB/T17626.29—2006 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
———GB/T17626.30—2012 电磁兼容 试验和测量技术 电能质量测量方法
———GB/T17626.34—2012 电磁兼容 试验和测量技术 主电源每相电流大于16A 的设备的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验
本部分是 GB/T17626的第21部分。
本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分等同采用国际标准IEC61000-4-21:2011(第2版)《电磁兼容(EMC) 第21部分:试验和测量技术-混波室试验方法》。
与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:
———GB/T2421.1—2008 电工电子产品环境试验 概述和指南(IEC60068-1:1998,IDT)
———GB/T4365—2003 电工术语 电磁兼容[IEC60050(161):1990,IDT]
———GB/T6113.101—2008 无线电骚扰和抗扰度测量设备规范 第1-1部分:无线电骚扰和抗扰度测量设备 测量设备(CISPR16-1-1:2006,IDT)
———GB/T6113.203—2008 无线电骚扰和抗扰度测量设备规范 第2-3部分:无线电骚扰和抗扰度测量方法 辐射骚扰测量(CISPR16-2-3:2003,IDT)
———GB/T17626.3—2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射 抗 扰 度 试 验 (IEC61000-4-3:2002,IDT)
本部分做了如下编辑性修改:
———去除了原标准中的IEC、IEEE、IEV、ISO 等缩略语定义;
———根据标准上下文,附录 K 中式(K.5)上一行的“(2)和(3)”修改为式“(K.3)和 式(K.4)”;附录K 中式(K.9)上一行的“(7)”修改为式“(K.7)”;
———IEC61000-4-21:2003中“calibration”在IEC61000-4-21:2011中修改为“validation”,但有部分未 作 修 改。 在 本 部 分 中,根 据 原 标 准 的 上 下 文 关 系,将 部 分 “calibration”修 改 为“validation”,译为“确认”,如 C.1.2中注2第2行、C.1.2中注3第1行等;
———根据公式推导,附录 K.2中“N 和N-1分别用 N ×M 和(N - (-1))×(M -(-1))代替”修改为“N 和N-1分别用 N×M 和(N-1)×(M -1)代替”。
本部分由全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC246)提出并归口。
本部分起草单位:东南大学、上海出入境检验检疫局、中国电力科学研究院、上海市计量测试技术研究院、中国电子技术标准化研究院、中国计量科学研究院。
本部分主要起草人:周香、周忠元、张娴、景莘慧、蒋全兴、李妮、龚增、陈俐、谢鸣。 |
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